电脑键盘按键寿命测试仪HY-TA-90

仪器概述：电脑键盘按键寿命测试仪HY-TA-90根据电脑键盘、手机键盘等按键的寿命测试要求要求而设计制造的专门设备，适用于电脑键盘、手机键盘等按键的寿命测试。设备采用铝合金机架，不锈钢封板，由调速电机驱动，砝码施加测试所需的压力，计数器显示设置测试次数并显示实验次数。设备操作简单，使用方便，能适用于多种器具的按键寿命测试。

产品详情

仪器概述：

电脑键盘按键寿命测试仪HY-TA-90根据电脑键盘、手机键盘等按键的寿命测试要求要求而设计制造的专门设备，适用于电脑键盘、手机键盘等按键的寿命测试。设备采用铝合金机架，不锈钢封板，由调速电机驱动，砝码施加测试所需的压力，计数器显示设置测试次数并显示实验次数。设备操作简单，使用方便，按键寿命试验仪能适用于多种器具的按键寿命测试。

技术规格 :

• 动作行程：10mm；

• 工件高低调整范围：10-80mm

• 夹具夹持能力：400×300mm；

• 测头安装范围：350×250mm；

• 试验次数：0-999999次；

• 试验速度：10-200次/分；

• 砝码：共40组，每组带有3个砝码，分别为O.2N、O.3N、0.5N，三个砝码可随意组合；

• 测头数量：40个，同时测试40个按键；根据样品的测试要求放置测头数量；

• 两支测头之间的小间隔：X轴：14mm，Y轴：50mm；

• 带有样品的加持治具；

主要配件：